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- Scios 2 DualBeam超高分辨率分析系統(tǒng)
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統(tǒng)，可為廣泛類(lèi)型的樣品，包括磁性和不導(dǎo)電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：2388
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- Helios 5 LaserPFIB顯微鏡
PFIB顯微鏡較快的材料去除率和較高的切割面質(zhì)量，是毫米尺度范圍納米分辨率下較快的高質(zhì)量亞表面和三維表征設(shè)備。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：4187
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- Helios 5 DualBeamFIB雙束掃描電鏡
Helios 5 DualBeam FIB雙束掃描電鏡經(jīng)過(guò)精心設(shè)計(jì)，可滿(mǎn)足材料科學(xué)研究人員和工程師對(duì)廣泛的 FIB-SEM 使用需求，即使是具挑戰(zhàn)性的樣品。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：4455
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- Scios 2 DualBeamFIB顯微鏡
FIB顯微鏡 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統(tǒng)，可為的廣泛類(lèi)型的樣品，包括磁性和不導(dǎo)電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：3364
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- Scios 2 DualBeamFIB雙束掃描電鏡
Scios 2 DualBeam FIB雙束掃描電鏡系統(tǒng)創(chuàng)新性的功能設(shè)計(jì)，優(yōu)化了樣品處理能力、分析精度和易用性，是滿(mǎn)足科學(xué)家和工程師在學(xué)術(shù)和工業(yè)環(huán)境中進(jìn)行高級(jí)研究和分析的理想解決方案。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：4224
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- Talos F200i S/TEM透射電鏡
Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 透射電鏡是賽默飛用于高分辨率成像和分析應(yīng)用的場(chǎng)發(fā)射掃描/透射電子顯微鏡，其電壓范圍為20到200 kV，是專(zhuān)為滿(mǎn)足各種材料科學(xué)樣品和樣品的性能和效率而設(shè)計(jì)的。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：3332
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
